영우디에스피, '디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛' 특허 등록

기존에 사용되던 프로브 유닛은 전극패드에 정상적으로 접촉될 수 있도록 각각의 프로브블럭에 대한 컨택 위치를 수동으로 정렬하는 셋업과정을 거친다. 프로브블럭 마다 내장된 이송장치를 통해 개별적으로 좌우방향의 컨택위치와 상하방향 컨택위치 가 정렬되는 방식으로 이루어진다. 이송장치의 내장화로 인해 프로브블럭의 구조 및 제작과정이 복잡해지는 문제가 발생되고 있었다.

회사는 이러한 문제점을 해결하기 위해 각 프로브블럭에 대한 개별적인 컨택 위치 정렬이 자동으로 가능한 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛을 제공하는 데 목적이 있다. 특허 기술을 적용하게 되면 프로브블럭의 구조가 단순해지고 제작성이 우수해지며 품질 및 유지관리가 매우 용이해져, 중소형 및 대형 디스플레이 검사장비의 경쟁 우위를 더욱 강화할 것으로 기대하고 있다.

영우디에스피 관계자는 "최근 디스플레이 시장이 지속적으로 증가하고 있어 검사장비 기술에 대한 관심 역시 높아질 것"이라며 "취득한 특허를 기반으로 신사업인 반도체 검사장비 사업을 확대하고, 기존 사업인 디스플레이 검사장비 역량을 강화하겠다"고 말했다.

한수연 기자의 다른 기사 보기